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射線檢測(cè)中CMOS的研究
射線檢測(cè)技術(shù)利用X射線探測(cè)材料內(nèi)部的不連續(xù)性，并在記錄介質(zhì)上顯示出圖像。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，射線檢測(cè)從傳統(tǒng)的以膠片為記錄介質(zhì)的照相方法不斷擴(kuò)展，形成了多種數(shù)字化射線檢測(cè)手段，如底片的數(shù)字化處理技術(shù)(Film Digitisation)、射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)(Radioscopy)、計(jì)算機(jī)射線成像系統(tǒng)(Computed Radiography)和射線數(shù)字直接成像檢測(cè)技術(shù)(Direct Radiography)等。實(shí)際應(yīng)用中需要根據(jù)檢測(cè)要求的分辨率和相對(duì)靈敏度選用合適的方法。相對(duì)于其它射線記錄介質(zhì)(如CCD、多晶硅等)，CMOS(互補(bǔ)的金屬氧化硅)技術(shù)更具有性能優(yōu)勢(shì)。目前，CMOS探測(cè)器的最小像素尺寸可達(dá)39μm，檢測(cè)精度較高，溫度適應(yīng)性好，結(jié)構(gòu)適應(yīng)性強(qiáng)。
2012-01-09
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射頻功率測(cè)量電路設(shè)計(jì)
近年來(lái)，隨著3G技術(shù)的快速發(fā)展，在進(jìn)行通信系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)，射頻功率的控制和測(cè)量十分重要。本文以美國(guó)ADI公司的AD8318單片射頻功率測(cè)量芯片為核心，設(shè)計(jì)了基于對(duì)數(shù)放大器檢測(cè)方法的射頻功率測(cè)量電路，該方法具有動(dòng)態(tài)范圍大，頻率范圍廣，精度高和溫度穩(wěn)定性好的特點(diǎn)。
2011-12-28
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ADM3054:ADI推出業(yè)界首款信號(hào)隔離CAN收發(fā)器
ADI最近推出首款信號(hào)隔離CAN（控制器區(qū)域網(wǎng)絡(luò)）收發(fā)器 ADM3054，進(jìn)一步擴(kuò)展了其業(yè)界領(lǐng)先的隔離接口產(chǎn)品系列，隔離額定值達(dá)5 kVrms，工作溫度可達(dá)125?C。ADM3054經(jīng)過(guò)全面認(rèn)證，提供隔離的電源檢測(cè)功能，采用高集成度的單個(gè)表貼封裝，能夠在惡劣工業(yè)環(huán)境下工作。與基于光耦合器元件的的傳統(tǒng)分立器件相比，該新款CAN收發(fā)器減少了70%的元件數(shù)量，極大地簡(jiǎn)化了設(shè)計(jì)，同時(shí)縮小高達(dá)61%的電路板空間。
2011-12-27
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ADI公司iMEMS技術(shù)應(yīng)用于高精度箭術(shù)運(yùn)動(dòng)
Analog Devices, Inc (ADI)，全球領(lǐng)先的高性能信號(hào)處理解決方案供應(yīng)商，最近將備受贊譽(yù)的 iMEMS? 技術(shù)應(yīng)用于首款高精度箭術(shù)運(yùn)動(dòng)的測(cè)量系統(tǒng)中。Full Flight Technology 公司選擇 ADI 公司的三軸數(shù)字 MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）加速度計(jì) ADXL346，用于其旗艦產(chǎn)品 Velocitip 彈道系統(tǒng)，首次通過(guò)箭身貼裝器件提供有關(guān)箭速、飛行動(dòng)力學(xué)和弓性能的詳細(xì)信息。Full Flight Technology 公司是一流彈道測(cè)量技術(shù)的領(lǐng)先創(chuàng)新者和開(kāi)發(fā)商，公司位于美國(guó)馬薩諸塞州劍橋市。
2011-12-23
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ADAU1966：ADI推出低功耗1616通道音頻DAC用于消費(fèi)電子
Analog Devices, Inc. 近日針對(duì)專(zhuān)業(yè)、“專(zhuān)業(yè)級(jí)消費(fèi)類(lèi)”和汽車(chē)音頻設(shè)備應(yīng)用推出能夠改善音頻系統(tǒng)性能并降低功耗的16通道音頻DAC ADAU1966。
2011-12-20
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AD5790/AD5780：ADI推出高精度超低噪聲DAC用于簡(jiǎn)化儀器儀表設(shè)計(jì)
全球領(lǐng)先的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換技術(shù)供應(yīng)商Analog Devices, Inc. 最近推出了提供高精度和超低噪聲的DAC（數(shù)模轉(zhuǎn)換器） AD5790和AD5780，可簡(jiǎn)化精密儀器儀表和分析設(shè)備的設(shè)計(jì)。
2011-12-16
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ADI公司與Richardson RFPD簽署全球代理商協(xié)議
Analog Devices, Inc. ，全球領(lǐng)先的高性能信號(hào)處理解決方案供應(yīng)商，最近宣布與Richardson RFPD公司簽署全球分銷(xiāo)協(xié)議。作為領(lǐng)先的RF和微波器件代理商之一，Richardson RFPD公司將支持ADI公司高性能RF IC（集成電路）以及全套模擬、混合信號(hào)和數(shù)字信號(hào)處理產(chǎn)品的設(shè)計(jì)導(dǎo)入。ADI公司的RF IC和信號(hào)處理技術(shù)現(xiàn)可通過(guò)Richardson RFPD公司的北美和南美辦事處提供，2012年上半年，歐洲、中東、大中華區(qū)、亞太地區(qū)和日本辦事處也將有望提供。
2011-12-06
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ADIS16136:ADI推出戰(zhàn)術(shù)級(jí)MEMS陀螺儀
Analog Devices, Inc. (ADI)，全球領(lǐng)先的高性能信號(hào)處理解決方案供應(yīng)商，最近正式全面推出 ADIS16136戰(zhàn)術(shù)級(jí) i Sensor ? 數(shù)字 MEMS 陀螺儀 其典型零偏穩(wěn)定度為3.5°/小時(shí)，采用火柴盒大小的模塊封裝，功耗低于1 W，重量?jī)H25克。新款戰(zhàn)術(shù)級(jí)(零偏穩(wěn)定度低于10°/小時(shí)) i Sensor MEMS 陀螺儀，無(wú)需用戶配置就能產(chǎn)生精密準(zhǔn)確的速率檢測(cè)數(shù)據(jù)，使得快速開(kāi)發(fā)平臺(tái)穩(wěn)定控制、導(dǎo)航、機(jī)器人、醫(yī)療儀器儀表等對(duì)精度要求非常高的應(yīng)用成為可能。
2011-12-06
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ADIS16488：ADI推出戰(zhàn)術(shù)級(jí)10自由度MEMS IMU用于軍用和醫(yī)療設(shè)備
Analog Devices, Inc. (ADI)，全球領(lǐng)先的高性能信號(hào)處理解決方案供應(yīng)商，最近正式全面推出第三代iSensor? MEMS IMU（慣性測(cè)量單元）ADIS16488，這是一款戰(zhàn)術(shù)級(jí)10自由度(DoF)傳感器，在單封裝中集成一個(gè)三軸陀螺儀、一個(gè)三軸加速度計(jì)、一個(gè)三軸磁力計(jì)和一個(gè)壓力傳感器。新款MEMS IMU提供最穩(wěn)定、最完整的集成傳感器套件，支持高性能導(dǎo)航和平臺(tái)穩(wěn)定控制應(yīng)用的嚴(yán)格要求。
2011-12-05
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ADP1048：ADI推出首款交錯(cuò)式數(shù)字功率因數(shù)校正控制器
Analog Devices, Inc. (ADI)，全球領(lǐng)先的高性能信號(hào)處理解決方案供應(yīng)商，最近推出首款交錯(cuò)式數(shù)字功率因數(shù)校正(PFC)控制器ADP1048，該器件具有高度精確的交流功率計(jì)量功能。
2011-12-02
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ADP7102/7104：ADI推出超低噪聲LDO可優(yōu)化系統(tǒng)負(fù)載性能
Analog Devices, Inc. (ADI)，全球領(lǐng)先的高性能信號(hào)處理解決方案供應(yīng)商，最近推出一對(duì)具有超低噪聲、高電源抑制以及出色負(fù)載與線路瞬態(tài)響應(yīng)性能的LDO（低壓差調(diào)節(jié)器）。ADP7102和ADP7104這兩款LDO均可實(shí)現(xiàn)15 μVrms的固定電壓噪聲性能，并且在3 V、10 kHz時(shí)具有60 dB的電源抑制比(PSRR)性能，同時(shí)具有反向電流保護(hù)特性，能夠針對(duì)短路和負(fù)載突然放電提供保護(hù)。
2011-12-02
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HDMI兼容性測(cè)試的常見(jiàn)故障分析
為了貼上HDMI標(biāo)志，所有HDMI產(chǎn)品都必須通過(guò)HDMI兼容性測(cè)試(HDMI CT)。而為了節(jié)省時(shí)間與金錢(qián)，客戶在將其HDMI產(chǎn)品送到授權(quán)測(cè)試中心(ATC)進(jìn)行認(rèn)證之前，應(yīng)當(dāng)進(jìn)行預(yù)測(cè)試。本文根據(jù)ADI公司HDMI CT實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行眾多預(yù)測(cè)試獲取的經(jīng)驗(yàn)，討論導(dǎo)致產(chǎn)品HDMI兼容性測(cè)試失敗的最常見(jiàn)系統(tǒng)設(shè)計(jì)問(wèn)題。另外也會(huì)分析特定的故障情況，并提供解決方案。
2011-11-10
- 車(chē)輛區(qū)域控制架構(gòu)關(guān)鍵技術(shù)——趨勢(shì)篇
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