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封裝技術(shù)開發(fā)要點(diǎn)：不同模型下的瞬態(tài)響應(yīng)分析
在封裝開發(fā)中，如何正確使用數(shù)據(jù)表的熱特性參數(shù)以做出設(shè)計(jì)決策經(jīng)常存在一定的誤區(qū)。之前我們討論了穩(wěn)態(tài)數(shù)據(jù)和瞬態(tài)數(shù)據(jù)的解讀與多輸入瞬態(tài)模型，今天我們將繼續(xù)分析各種模型下的瞬態(tài)響應(yīng)。
2023-04-26
封裝技術(shù) 瞬態(tài)響應(yīng)
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R&S聯(lián)合六幺四推出頻域參數(shù)測試方案
目前400G/800G光模塊或元器件、光子集成芯片和器件等高性能光電元器件在現(xiàn)代超大容量光纖骨干網(wǎng)絡(luò)、云計(jì)算數(shù)據(jù)中心、高速移動(dòng)通信系統(tǒng)等領(lǐng)域中發(fā)揮著不可替代的作用，其帶寬、幅度響應(yīng)、相位響應(yīng)等頻率響應(yīng)參數(shù)決定了整個(gè)設(shè)施系統(tǒng)的通信容量上限，而帶寬發(fā)展的最新趨勢正在從67 GHz向110 GHz演進(jìn)。
2023-04-23
R&S 頻域參數(shù) 測試
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ADALM2000實(shí)驗(yàn)：測量揚(yáng)聲器阻抗曲線
動(dòng)態(tài)揚(yáng)聲器的主要電氣特性是電阻抗，它與頻率具有函數(shù)關(guān)系。通過繪圖可以將其可視化，該圖稱為阻抗曲線。本實(shí)驗(yàn)活動(dòng)的目的是測量永磁揚(yáng)聲器的阻抗曲線和諧振頻率。
2023-04-21
測試測量 揚(yáng)聲器 阻抗曲線
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使用分立半導(dǎo)體器件的熱管理設(shè)計(jì)
有幾種方法可有效改善當(dāng)今分立半導(dǎo)體在設(shè)計(jì)時(shí)遇到的高溫問題。仿真技術(shù)對于衡量各種方法的工作情況至關(guān)重要。
2023-04-20
分立半導(dǎo)體器件 熱管理
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E-RSSI技術(shù)助力更精確的短距離測距應(yīng)用
RSSI是Received Signal Strength Indicator（接收信號強(qiáng)度指示器）的縮寫，用于測量接收到的信號強(qiáng)度。在低功耗藍(lán)牙設(shè)備中，RSSI也具有重要的作用。
2023-04-19
E-RSSI技術(shù) 短距離測距應(yīng)用
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如何優(yōu)化MCU SPI驅(qū)動(dòng)程序以實(shí)現(xiàn)高ADC吞吐速率
隨著技術(shù)的進(jìn)步，低功耗物聯(lián)網(wǎng)(IoT)和邊緣/云計(jì)算需要更精確的數(shù)據(jù)傳輸。圖1展示的無線監(jiān)測系統(tǒng)是一個(gè)帶有24位模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。在此我們通常會遇到這樣一個(gè)問題，即微控制單元(MCU)能否為數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器提供高速的串行接口。
2023-04-19
MCU ADC 吞吐速率
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【泰享實(shí)測之水哥秘笈】： 電源測試的人間煙火，深入淺出談環(huán)路響應(yīng)測試！
當(dāng)你發(fā)現(xiàn)信號完整性不好時(shí)， 會不會是電源完整性帶來的問題？當(dāng)你發(fā)現(xiàn)時(shí)鐘抖動(dòng)很大時(shí)，會不會是電源質(zhì)量不好？當(dāng)你發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)有誤碼時(shí)，會不會是電源的控制環(huán)路不穩(wěn)定？電源完整性(PI)和信號完整性(SI)是相互影響的，信號質(zhì)量不好，大概率電源不好，電源質(zhì)量不好，信號質(zhì)量肯定不好。
2023-04-14
泰享實(shí)測 電源測試 環(huán)路響應(yīng)測試
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功率分析儀如何消除接線方式引入的誤差？
為實(shí)現(xiàn)測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，除了選擇高精度的測量儀器外，還必須使用和負(fù)載匹配的接線方式，使能對應(yīng)的補(bǔ)償算法對電壓值或電流值進(jìn)行修正，補(bǔ)償接線引起的儀器損耗，實(shí)現(xiàn)高精度功率測量。
2023-04-14
功率分析儀 消除誤差
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別再只盯著光刻機(jī)了！自動(dòng)化測試對于芯片制造同樣重要
行業(yè)調(diào)研數(shù)據(jù)顯示，芯片行業(yè)的產(chǎn)值和營收一直在不斷提高，同時(shí)其地位受到大眾的關(guān)注。光刻機(jī)在芯片領(lǐng)域當(dāng)然獨(dú)占鰲頭，但一顆芯片的成功不只取決于光刻部分，測試對芯片的質(zhì)量更有不容忽視的意義。
2023-04-12
光刻機(jī) 自動(dòng)化測試 芯片制造
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